【摘 要】
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以X射线技术为主要表征手段,结构SEM（扫描电镜）和AFM（原子力显微镜）分析了ECO（EuCuO）缓冲层对YBCO（YBaCuO）超导薄膜的微结构的影响.采用XRD（X射线衍射）和XRF（X射线荧光）技术分析了在NiFe/
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以X射线技术为主要表征手段,结构SEM（扫描电镜）和AFM（原子力显微镜）分析了ECO（Eu<,2>CuO<,4>）缓冲层对YBCO（YBa<,2>Cu<,3>O<,7-δ>）超导薄膜的微结构的影响.采用XRD（X射线衍射）和XRF（X射线荧光）技术分析了在NiFe/FeMn界面处掺入不同厚度的Bi以及Bi/[NiFe/FeMn]<,15>和[Bi/NiFe/FeMn]<,15>的微结构.结合Raman散射和X射线技术分析了立方GaN薄膜结构.上面结果也表明,采用Raman光谱和X射线技术相结合可以分析立方GaN的微结构.
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