【摘 要】
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该文围绕光折变全息存储的相关理论和技术,就光波在光折变晶体中的耦合、相位栅的动态特性、散噪声的抑制、数字全息存储的编码方法、相位栅的固定和多重全息存储中的曝光均
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该文围绕光折变全息存储的相关理论和技术,就光波在光折变晶体中的耦合、相位栅的动态特性、散噪声的抑制、数字全息存储的编码方法、相位栅的固定和多重全息存储中的曝光均匀性等进行了理论和实验研究.首先应用光折变晶体中耦合波理论对全息存储中相位栅的捺幅和衍射效率同存储几何参数(例如光栅矢量同光轴之间的夹角,信号光同参考光之间的夹角)的关系进行了分析,给出了为获得最大衍射效率的存储结构参数.对光折变晶体中耦合波方程数值求解,研究了全息记录和读出时,全息光栅的瞬态增强特性,研究了单光束读光栅时不同的初始光栅强度、两波耦合强度等参数对光栅增强特性的影响和双面交替读光栅时读栅光强与读栅时间对快速增强光栅强度的影响,基于全息动态刷新器提出一种易于实现快速增强光栅强度的实验方案.理论上他光折变全息存储中光栅振幅、衍射效率、动态范围及存储容量同外加电场的关系,对俱在铌酸锶负(SBN)晶体中的单幅全息图进行了电固定,给出的实验结果,并对电固定光折变全息相位栅进行了定性解释.研究了多重全息存储中的曝光均匀性,分析了多重全息存储中散射效应对写入时间数和光耦合对光栅捺幅的影响,给出了两种因素影响下角度多重编码存储中时间递减曝光法的计算公式.
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