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自动测试系统的技术发展水平是武器发展及工业自动化发展的有力保障,为解决大量自动测试系统的可重用及可拓展需求,基于可重配置思想设计了通用测试系统的软件架构并阐述了其中的关键技术。本文首先根据实际工程中对软硬件测试资源的可重用需求提出了基于PXI总线的通用测试系统结构。在研究ATML标准体系的基础上,借助标准化的测试信息描述方法设计了可重配置的通用测试系统软件架构,通用测试系统软件可通过ATML测试文档描述工具生成的标准描述文件进行重新配置。利用Labwindows/CVI开发环境下的cvixml.fp库文件设计了满足ATML标准的XML描述文件解析及封装技术。在此基础上,参照ATML体系中的IEEE 1671.1标准确定了测试序列信息的描述方法,给出了各内容在标准文档中的承载方式及位置,设计了对应的测试序列编辑工具,并编写了实例程序。提出完整的被测单元信息由产品接口信息(IEEE 1671.5)、测试结果信息(IEEE 1636.1)和产品信息(IEEE 1671.3)三部分构成,依据各自符合的ATML子组件标准设计了对应的信息描述及内容承载方式,设计了对应的ATML测试文档描述工具,并编写实例程序说明了测试信息的封装流程。依据可重配置软件架构的设计思路和使用习惯,设计了通用测试系统软件的操作界面,并提出了功能预留区域的设计思想与实现方式。利用基于Labwindows/CVI的描述文件解析技术,结合ATML标准子组件提出了软件各部分的重配置方法及相关的编写技术。参照IEEE 1671.1与IEEE 1671.2设计了测试资源按需分配的算法规则,实现了硬件资源的可重用与可替换。借助Labwindows/CVI开发环境对API接口及SQL数据库的支持,提出了测试结果与诊断信息的存储方案及标准化描述方式,有助于测试结果信息的共享与统一管理。