芯片行业朝着高速、高精、高效的方向发展,但是还存在很多问题,振动是高精度加工的关键问题之一。急需要一种高效、高精、高速的芯片分拣设备,摆臂作为分选设备的核心部件,摆臂快速急停以及转动,会引起较大的惯性振动,将直接影响芯片的拾取精度。所以提高工作效率主要的因素就是控制摆臂的振动。而振动抑制方法前提是必须能够获得动力学特性,所以研究摆臂的动态特性尤为重要。本文先对目前高频往复机构存在的问题进行了分析,针对LED芯片分选机的摆臂进行了传统的实验模态分析,指出传统的实验模态分析法对于大型结构测试是有效的,但是对于轻质结构来说存在不足,在运行状态下也无法识别模态参数。结构应变响应的分析方法解决了输入不可测的问题,也解决了因为传感器自身的质量造成实验数据不准确。对类似摆臂结构悬臂梁进行了应变响应测试、实验模态分析和有限元仿真分析,实验结果表明应变响应测试方法能准确获取结构模态参数,验证了应变响应测试方法的准确性。为了获得摆臂的动态特性,做了两件事情。第一,对摆臂静止和运行状态两个状态进行应变响应测试;第二,对摆臂处于不同工作位置下进行应变响应测试。同时对摆臂运行频谱图中高低频段响应规律进行分析,指出摆臂振动是由多阶频率共同引起的,在分析时必须关注结构高频的影响,为运行过程摆臂振动抑制提供指导。通过上述的研究,本文从多个方面对芯片分选机摆臂结构进行动力学分析,探究一种方法更准确的获取摆臂结构运行振动的动态特性。