基于记忆元件的软开关技术研究

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电源装置高频化,造成开关器件损耗增加,电磁干扰严重。软开关技术被证明可以有效的解决上述问题,然而其谐振频率与负载大小、开关频率有着密切的关系,所以存在一些固有的缺陷,如无法适应变化的负载;功率开关器件因承受过大的电压或电流应力,易于损坏;辅助电感、电容增加了装置的体积和重量,降低了功率密度等,所以急需一种新的思路来改善软开关技术的上述缺点。忆阻器、忆容器和忆感器的提出是电路与系统领域一个重要的里程碑。记忆元件凭借纳米尺寸、低功耗、集成密度高等优点,可以有效的减少现有软开关变换器的尺寸,提高集成密度,
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