本论文是根据国家“高档数控机床与基础制造装备”科技重大专项的“基于国产‘龙芯’CPU芯片的高档数控装置(2009ZX04009-022)”的子课题，以建立基于数控装置的可靠性设计、测试以及评估的体系为目的提出的。　　 本论文针对数控装置在研制过程中可靠性难以保证的问题首次引入了军用电子设备上常用的可靠性分配和预计方法，保证了数控装置的可靠性，给出了可靠性增长的具体措施，使得数控装置的可靠性达到专项要求。其次，本论文引入了故障模式分析法，详细分析了故障模式原因、故障模式的影响以及故障模式的危害度，找出了关键故障部位和常见故障，给数控装置的可靠性增长提供了有效的改进措施。第三，本论文运用了基于数理统计的可靠性分析方法，通过分布类型初选、参数估计和拟合优度检验等分析流程，确定了寿命分布模型，解决了可靠性难以定量评估的问题。最后，本论文引入了高加速寿命试验方法，解决了由于数控装置的使用周期长，故障次数少等特点造成的可靠性寿命试验难以实施的问题。该方法改进了以往的试验流程，首次引入了验前测试时间的计算，使得在进行加速寿命试验前就能够确定截尾时间，有效控制了数控装置可靠性寿命试验的成本，使得如此高可靠性数控装置的可靠性寿命试验变得切实可行。　　 上述四部分可靠性技术的研究，贯穿了数控装置的研制、生产和使用的整个流程，完成了数控装置的可靠性设计、可靠性测试以及可靠性评估的体系。