随着高宽带业务的迅速普及以及物联网时代到来,现有的通信系统已经满足不了日益增长的业务需求。基础运营商亟需对现有网络进行带宽升级,10G、40G乃至100G光传输系统成为目前扩容的首选方案。而与之配套的光模块和光系统的误码性能测试平台的研发具有很高的实用价值。本论文在系统地分析了误码测试的基本原理和高速PCB设计所面临问题的基础上,通过仿真和设计,开发了一套4通道并行测试、单通道速率可以覆盖2.125G~27.952Gbps速率范围的多速率综合误码测试平台。主要用于光通信系统中的10G光模块(如SFP+、XFP)、40G光模块(如QSFP)、100G光模块(如CFP4)的误码性能测试。具体的研究内容包括:(1)根据误码测试的相关需求和原理设计了一套多速率综合误码测试平台,采用VSC8248模块和Gearbox模块分段覆盖的方式,达到误码测试速率的宽覆盖、高低速率兼顾的目的。(2)根据设计方案设计了硬件电路,绘制高速PCB Layout,并提出了在高速PCB设计中应该注意的阻抗匹配、信道带宽设计等高速信号完整性的问题。(3)设计了多速率综合误码测试平台的下位机控制程序,主要包括系统初始化、人机交互、时钟输出频率计算算法、主芯片和时钟芯片的驱动程序等功能模块。(4)提出了多速率综合误码测试平台的测试方案,介绍了调试过程与结果。并按照测试方案对误码测试平台进行了指标的系统性测试。分析和解决测试过程中出现的问题,并通过与实际的产品对比评估了测试平台的性能指标。