电解温度、电解质初晶温度电解质分子比是铝电解过程的重要经济技术指标。低初晶温度允许低电解温度，而降低电解温度可大大提高电流效率。电解质成份的复杂性和电解质的高温强腐蚀性给获取体系各参数带来了很大困难，如何及时、快速、准确地测定其电解温度、初晶温度和分子比，已成为铝电解作业中的重要课题。 本文对电解铝厂中的大量实际样品进行分析，用冷却曲线法直接测定其初晶温度，建立初晶温度与电解质成分、初晶温度与分子比之间的数学模型，再进一步对这些模型进行处理，根据初晶温度测定的结果由计算机推算出体系的分子比及其他参数；对测温所用传感器的材质和构型以及盛样器的材质和构型作了研究，选出了能够耐铝电解质高温及强腐蚀性的传感器材料和盛样器材料，对传感器和盛样器的构型作了改进，使之满足延长测温寿命及测温简单方便的要求；由计算机来进行温度的自动控制、数据分析、显示和输出，由此研制出一台便携式XCA-1B型铝电解质槽前分析仪。 铝电解质槽前分析仪将温度与分子比联系起来，能够及时快速准确的测定铝电解质初晶温度，并由此推算出分子比及电解质各组分含量。温度测量的误差达到±2℃，推定的分子比误差达到±0.03。在多个铝厂进行现场试用，效果令人满意。该分析仪解决了铝电解质连续测温，对分子比进行直接控制调整的问题。