近年来很多实验发现,当材料变形的特征长度在微米或亚微米量级时,材料表现出很强的尺寸效应:越小越硬。经典塑性理论不含任何长度参数,因此无法预测尺寸效应,建立包含内禀材料长度参数的新的本构模型—应变梯度塑性理论就势在必行。 本文致力于低阶和含有非经典应力矢量的应变梯度理论及有限变形研究。 低阶应变梯度理论保留了经典塑性理论的结构,并且不包含附加边界条件。采用非线性偏微分方程的特征线方法研究低阶理论,对于Niordson和Hutchinson的无限大平板剪切问题,我们得到了Bassani低阶理论的“定解域”,同时发现当外加剪应力增加时,“定解域”逐渐缩小直至消失。为得到“定解域”之外的解,需要补充非经典的附加边界条件。在“定解域”内,特征线方法的解与Niordson和Hutchinson的有限差分解吻合得很好。在“定解域”外,解可能不唯一。 基于Fleck和Hutchinson应变梯度理论的框架,考虑Taylor位错模型,建立了一种新的含有非经典应力矢量的应变梯度理论。应用该理论研究了若干具有尺寸效应的典型问题,如无限大平板剪切,细丝扭转,薄梁弯曲,孔洞长大,薄膜—基体双轴加载。 微尺度下,薄膜实验与位错模拟对于研究尺寸效应有重要意义。采用我们的应变梯度塑性理论研究Yu和Spaepen的copper薄膜—Kapton基体单向拉伸的实验结果。结果表明我们的应变梯度理论不仅能较好地预测尺寸效应,还可以得出与Venkatraman和Bravman以及Nix所预言的薄膜屈服应力和薄膜厚度之间的关系相同的趋势。此外,采用该理论研究Shu等的位错模拟无限大平板剪切问题的结果时,可以拟合出内禀材料长度参数的确是在微米量级。 本文最后建立了Fleck和Hutchinson应变梯度理论及我们的应变梯度理论的有限变形理论。采用有限变形理论研究了细丝扭转问题。结果表明,有限变形理论和小变形理论有一定的差别。