我国水资源税征收管理制度完善研究

来源 :郑州大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lpwxlwan
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随着光学元件在诸多领域的广泛应用,对光学元件的表面及亚表面质量提出了更高的要求,尤其是在高能激光装置、大型光学系统等高科技领域,对光学元件的光学稳定性、抗激光损伤阈值、成像质量等性能指标的要求更为严苛,而亚表面缺陷会极大地降低这些性能指标,对整个光学系统造成不可修复的后果。因此,光学元件的亚表面缺陷检测成为光学检测领域的一个重要研究课题。深度检测是亚表面缺陷检测的难点之一,现有方法主要通过层析扫描