双界面CPU卡是一种同时支持接触式与非接触式两种通讯方式的CPU卡,接触接口和非接触接口共用一个CPU进行控制,接触模式和非接触模式自动选择,一方面具备接触式CPU卡的功能,具有安全性高、数据传输稳定,存储容量大等特点；另一方面具备非接触式CPU卡的功能,具有传输速度快,交易时间短等特点,特别适用于使用环境恶劣,要求响应速度快、安全性高、功能需求复杂的场合。集成电路在生产中为了保证质量,需要尽可能的提高测试覆盖率,但需要增加测试时间,有时候测试时间增加而带来的成本上升将不可接受,对于CPU卡产品测试成本通常占到IC整个成本的10%到30%,因此迫切需要降低测试成本来提高半导体公司产品竞争力。本文对集成电路自动化测试系统的开发应用进行了研究,它的工程背景是针对FM1216系列双界面CPU卡产品进行批量测试。FM1216是应用广泛的带32K非挥发存储器的双界面CPU卡,峰值产量达到10万片/每天。双界面CPU卡的测试时间长,如果使用昂贵的ATE(自动化测试设备)测试将大大增加产品的成本。本文设计开发了8并行双界面卡专用测试仪对该产品进行圆片测试,达到了扩大产能和降低成本的目标。本文首先介绍了FM1216系列产品,并对测试仪进行了需求分析、器件选型、硬件开发、软件开发,校准、系统调试,失效分析和数据统计到最后完成小批量量产的全过程。其次介绍了本系统各个模块的具体实现方法,包括界面设计、软件架构和技术模块实现。该测试仪的成功开发产生了良好的经济效益并提高了产能,同时本文所做的工作为开发其他专用并行测试仪提供了参考。该测试仪采用MSP430F169作为主控MCU,论文介绍了程序并行下载功能的实现,并行测试的原理和实现方法。介绍了上位机软件的调试分析功能和算法实现。设计了专用的IS07816接口以提高测试效率,同时对设计中遇到的一些问题进行了分析。最后介绍了测试仪的实际应用情况和测试数据,该测试仪已经应用到小批量生产测试当中,并取得了良好的效果。