SoC技术的出现,给超大规模集成电路VLSI的设计带来了一场革命,它通过复用大量具有自主知识产权(IP)的芯核,极大地缩短了开发周期,加快了产品上市速度,提高了芯片的产量。随着SoC技术的发展,芯片的集成度迅速提高,芯片测试的复杂性和测试数据量随之激增,而传统的ATE的存储空间、工作频率以及带宽却非常有限,这使得SoC测试面临着测试时间过长、测试难度和测试成本急剧增加等诸多方面问题。目前解决这类问题的一种行之有效的方法是运用测试数据压缩技术,该技术的运用能够达到简化测试实施过程、减少测试实施时间以及降低测试成本的目的。为了充分发挥测试集中无关位多且各测试向量所包含的无关位数量差异大的特点,本文提出了一种新颖的基于变长数据块相关性统计方法,以测试向量为单位,运用统计和数据块相关性的思想,先确定向量的参考数据块,再利用它与该向量中数据块的相关性进行压缩。各向量的参考数据块长度相互独立,且同时具有和该向量中数据块相关性频率最高以及用其对向量进行编码得到的位数最少的特点。该方案运用对不同测试向量分而治之的策略,突破了在整个测试集范围内操作所受的限制。同大部分现有方法相比,该方法更有效地压缩了测试集,且硬件解压结构也较简单,具有较好的适用性。本文随后提出了一种基于连续及非连续长度块编码方法,该方法从提高码字利用率出发,是一种新的固定长度编码方法。将测试集看成若干个连续‘0’序列和‘1’序列,将长度超过被选择的长度k的序列看成连续块,利用一个定长的k位二进制编码表示该块的长度信息;同时,创新性的对短序列进行了处理,即连续长度不足k位的序列,按一定的策略被划为非连续块,并且不对其进行编码。该策略有效地减小了编码中序列长度变化大带来的影响,避免了用长码字替换短序列的情况。同时本方案减小了使用前、后缀形式编码的复杂性,所以其编码及解码过程简单,具有简单的通讯协议。文中对ISCAS-89标准电路原测试集以及差分预处理后的测试集进行了实验,结果表明本方案能获得较高的压缩率,并通过设计的硬件解压结构能顺利还原成原始数据,是一种具有较强适用性的方法。