随着RFID（Radio Frequency Identification，无线射频识别）技术的不断发展和完善，市场对RFID标签的需求量将越来越大，对RFID标签生产制造各个环节都提出了新的挑战。标签天线作为RFID标签的核心部件之一，其制造尺寸精度和电学性能会对后续RFID标签封装过程的生产效率、成品率以及标签最终性能造成重大影响。但是，目前文献中较少涉及标签天线外观品质和电学性能批量化检测的技术方法和装置。基于以上原因，本文提出了一种RFID标签天线检测设备，并围绕对应关键技术展开了设计和研究工作，其主要内容为：首先，根据设备功能需求和设计指标，提出了一套功能针对性强、集成度高的设备整体设计方案，介绍了设备各模块功能。设计了检测组件驱动机构以及基板夹持机构，同时，基于轻量化和可加工性要求，采用有限元法分析和优化了Y向支架和夹持组件的机械结构，获得了一套较优的结构和尺寸参数。其次，采用分区域分析方法，对天线检测设备输送系统中不同区域内基板张力分布规律和影响因素进行了分析与建模，分析了输送系统引起基板跑偏的原因。同时通过分析单边驱动H型XY运动平台的动态定位偏差，完成了检测组件动态定位偏差数学建模，得出了检测组件动态定位偏差与机械结构、速度、加速度和空间位置相关的结论。最后，详细分析了设备的实际工况、动作流程和运动时序，结合设备高速度、频繁快速启停和高精度定位要求，完成设备控制系统设计。通过实验证明，本天线检测设备整体方案和对应机械、控制、软件设计满足实际RFID标签天线卷到卷检测工况需求。本文的研究成果已成功应用到了RFID标签天线检测设备的研发和制造中，也为其它RFID生产相关设备的研发提供了参考。