随着CCD图像传感器的在各领域的普遍应用,国产CCD对于测试评价的需求日益迫切。但受限于CCD类型多种多样,器件引脚数量越来越多,阵列规模越来越大,图像数据输出通道不断增加,驱动时序各不相同等特点。迫切需要一种可以降低CCD图像传感器测试电路设计周期,和提高参数测试的一致性、可对比性的通用化测试系统。本论文针对上述问题,提出了“一种参量化CCD驱动时序设计方法”和“一种新型CCD垂直驱动电路设计方法”等创新技术,配合全新开发的强大软件控制及图像采集处理系统,通过合理的系统级电学功能划分和结构设计。解决了硬件通用化、嵌入式软件通用化和PC端软件通用化三大问题。同时充分考虑电磁兼容设计、热设计、冗余设计等性能影响因素,研制出了可满足各类常用CCD图像传感器参数评价的通用测试电学系统。并成功应用到了多个项目的大圆片测试(中测)、封装后初选测试(初测)、详细参数测试(末测)等阶段的光电参数测试评价中。本文将从设计规划、硬件设计、嵌入式软件设计、PC端软件设计、应用情况等方面对系统的构架组成、设计思路和方案、具备的功能和达到的性能指标、以及所绘制的电路设计和应用的实物等方面进行介绍。在技术攻关和系统研发过程中,不断改进和优化设计,以求在实现通用化功能的同时,保障对于CCD器件的测试性能不低于专用的定制化测试电路。通过多个项目的应用和验证,最终系统的各测试参数指标均达到了预定设计指标,并且整体性能还优于部分专用的测试电路。在满足测试需求的同时,还积极开发拓展应用,设计转接电路后将系统应用于了高低温测试系统和通过降频应用于了大圆片测试中。同时在演示成像方面配合手动的大靶面调焦平台和镜头,实现了部分器件的演示成像。系统不仅满足了各种类型CCD器件的测试需求,具备了高低速各8通道的测试能力,同时将噪声指标由一些专用测试电路的0.3mV降低到了0.15mV。本设计相对于国外昂贵的测试系统而言,具有较大的市场竞争力。应用于本行业的CCD图像传感器测试与生产过程中,将大大节省现有电路设计人员的投入和相应硬件电路的生产、调试成本,节省测试电路研发时间,减短研发周期,同时提高测试参数的可靠度、一致性和可对比性。其中所产生的隐性价值,就目前而言是难以估量的。