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太赫兹（Terahertz，简称:THz）波段有着非常丰富的科学与技术背景和广阔的发展空间，是当前物理、化学、天文学等学科研究的重点波段。该频段的主要技术挑战之一是如何研制出高灵敏度检测器。对连续THz信号的检测，主要有直接检测和混频检测两种，其中超导热电子测热辐射计(Hot Electron Bolometer,简称:HEB)外差混频检测技术因具有高灵敏度、低噪声、相对较宽中频(IF)带宽以及需求本振功率低的优点，得到了广泛的重视和开发。本文对氮化铌(NbN) HEB的太赫兹混频器的稳定性进行了研究，并探讨了相应的简易稳定方法。为此，我们做了如下的工作: 1.在4.2 K温度下，我们使用0.65 THz锁相的和非锁相的本振源(LocalOscillator，简称:LO)测量了HEB THz混频器的中频输出，明确了LO输出信号的稳定性是HEB混频器稳定性的主要原因之一。 2.为提高HEB混频器的稳定度，我们还加入了一个具有微波信号补偿功能的反馈回路到系统中。在这个反馈回路里，微波补偿频率(10GHz)远远低于NbN HEB混频器的工作频率(0.65 THz)，从而利用便于调节的低频微波信号来补偿了混频器所需的高频THz LO功率波动。 3.我们最终使得系统的艾伦时间(Allan time)从原来的1s提高到22s，从而改善了检测系统的稳定性，为下一步进行THz成像的研究打下了基础。