LTE基带芯片对处理能力和功耗有着非常苛刻的要求。然而，集成电路产业技术门槛高、研发周期长、资金投入大等问题和LTE基带芯片的需求形成了鲜明的矛盾。基带芯片的研发难度越来越大，如何缩短研发周期和降低成本成为基带芯片研发的重要课题。在LTE基带芯片的研发过程中，高效的调试系统能显著地加快芯片的研发和验证进程;同时，在芯片发布后，用户也期望所使用的芯片平台能够提供完备的调试工具以减少程序开发时间。因此，丰富而便利的调试手段也更能吸引用户。　　本文在讨论LTE基带芯片调试方案研究意义的基础上，分析了LTE技术特征给调试方案设计在时间、成本和复杂度方面带来的挑战，进而提出了本文的研究目标即设计和实现LTE基带芯片调试解决方案。　　为解决LTE基带芯片的调试问题，本文在参考嵌入式调试方案ARM CoreSight的设计理念基础上，为本团队研发的LTE基带芯片“动芯”设计并实现了一个完备的调试系统。本文所设计的调试系统不仅提供交互式的源码调试功能，还提供实时跟踪功能;同时，不仅支持单核调试，也支持多核并发调试。　　论文在回顾了调试相关基础知识和常用嵌入式调试方法之后，详细描述了LTE基带芯片调试方案的设计框架，包括硬件设计和软件设计部分。然后，对LTE基带芯片调试方案研究过程中的关键问题进行了分析，包括如何加快RTL仿真时交互式调试的速度、如何进行低成本和低功耗调试的探索以及如何定制恰当的实时跟踪技术框架。　　最后，本文所设计的调试方案已成功运用于LTE基带芯片“动芯”的处理器研发、验证和物理层算法开发中，文章最后给出了该调试系统的一些实验数据。