X微处理器是一款采用全定制方法设计的处理器,内部结构复杂,规模宏大,含有大量的存储电路,因此对其进行验证具有很大的难度。本文研究了X高性能微处理器体系结构与设计特点,并深入研究X微处理器中存储电路的特性与功能,对验证模型建立过程中存储电路映射模型的建立提出了具体的逻辑映射方法。同时,考虑到验证模型的建立是以映射后面积为首要考虑因素,因此通过深入研究FPGA的资源利用、综合工具的综合特性以及Verilog语言的描述风格,对存储电路的逻辑映射方法进行了基于优化面积的改善。本文通过深入研究了模拟验证与形式化验证的理、论以及优缺点,对存储电路映射模型的功能一致性提出了模拟验证与等价性验证相结合的验证方法。这种验证方法相比于单独使用模拟验证或等价性验证,极大的提高了验证效率、缩短了验证时间、保证了功能一致性。本文提出的逻辑映射方法与验证方法在对X微处理器存储电路进行映射模型建立的工作中起到了关键的作用,并对于其它模块的逻辑映射与验证也具有一定的参考意义。本文还通过在具体工程中对辅助工具的使用,提出了一些能够有效提升验证模型建立的速度以及提高验证效率的方法,使得工作效率比传统的工作效率提高了5倍。