测量对科学的发展是非常重要和必需的,甚至可以说没有测量就没有科学。众所周知在电信号的直流或低频段,电压、电流是电信号的基本被测参量,而在射频段的应用技术中射频标签阻抗测量像电压测量一样重要。随着射频识别技术的飞速发展,对射频标签阻抗准确测量的要求也越来越高。本文正是根据标签阻抗测量的重要性,主要研究和实现了基于LabVIEW的高精度、易测试的射频标签阻抗测量。(1)通过分析射频识别技术的发展和研究现状,以及UHF频段的RFID原理,指出了射频标签阻抗测量的重要性及本课题的研究理念。(2)详细介绍了虚拟仪器的概念与特点、发展与演变、构建技术。并对LabVIEW开发平台进行深入的研究和探讨,其中包括了图形化编程语言、VI (VirtualInstrument)的概念、LabVIEW软件的特点以及LabVIEW程序设计的一般过程。(3)从天线的辐射场特性出发,给出了反射调制式RFID系统应用的条件,即天线的远场工作条件。系统阐述了阻抗、极化方式和方向性系数等若干天线参数的概念。探讨了微带天线的基本理论和传输线分析方法。研究了射频标签的工作原理。(4)提出了一种测量射频标签阻抗方法,它是通过匹配网络来实现,使标签内部阻抗和负载阻抗匹配,在已知负载阻抗的前提下,确定匹配网络系数,从而算出标签内部阻抗。接着设计了用LabVIEW来实现匹配构成的阻抗测量电路,并对它的各个组成部分如相位差计和幅度比较器等进行详细的分析。最后对总电路进行仿真分析。