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目的：以CBCT评估上颌后牙颊侧种植体支抗植入区的解剖特点,为临床种植钉的植入提供参考,提高植入的安全性和稳定性。方法：研究样本分儿童组和成人组两组,各21名患者,进行CBCT扫描,选取距上颌第一磨牙远中颊侧釉牙骨质界(CEJ)4mm和7mm两个截面作为参考平面,对上颌左右侧5-6根间和6-7根间的皮质骨厚度密度、松质骨密度、根间最短距离、皮质骨距根间最窄处距离和以30°植入后植入点距上颌窦底距离进行测定并进行配对t检验。结果：随着年龄增长,上颌第一磨牙颊侧从近中向远中皮质骨厚度和骨密度均增大,差异显著；近中根间距离大于远中,差异显著；皮质骨距根间最窄处距离平均值大于5mm；以30°植入后植入点距上颌窦底距离平均达到8mm。结论：为使种植钉植入更安全稳定,避免误伤根部和误穿上颌窦,建议选择上颌第一磨牙远中或者近中,直径1.3mm-2.0mm,螺纹长度6mm的种植钉,尽量以与骨面成30°的小角度植入。由于皮质骨厚度薄,骨密度低,小于14岁的儿童谨慎使用种植钉。