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具有n=1时Ruddlesden-Popper结构的MLnAlO4(M=Ba,Ca,Sr；Ln==La,Nd, Sm,Y)层状钙钛矿由简单钙钛矿层和岩盐层以1:1比例沿c轴堆垛而成,其陶瓷材料具有优良的微波介电性能,在微波通信器件中有着潜在的应用价值。另一方面,异价离子共同占据AB03钙钛矿结构氧八面体中心位置的复合钙钛矿A(B1,B2)03则是电子陶瓷材料的重要成员。本论文使用异价离子R2+(RZn,Mg)和Ti4+共同取代SrLaAl04中的A13+,系统研究了SrLa(R0.5Ti0.5)O4(R=Zn,Mg)复合层状钙钛矿陶瓷的制备、相组成、微结构及微波介电性能。通过固相反应法制备了致密的SrLa(R0.5Ti0.5)O4(R=Zn,Mg)单相陶瓷,属于14/mmm空间群,结构精修表明在这种复合层状钙钛矿陶瓷中,(R0.5Ti0.5)3+完全占据氧八面体中心位置,对层间极化和许容因子产生重要影响。由于异价离子(R0.5Ti0.5)3+的引入,使得平均离子半径增加,导致钙钛矿层和岩盐层的匹配程度降低；同时结构许容因子减少,结构的稳定性降低,从而产生内应力,使得介电损耗增加。由于介电常数正比于离子的极化率,(R0.5Ti0.5)3+离子极化率明显高于A13+,介电常数得到显著提升,同时谐振频率的温度系数从负值变为正值。分别在1400℃和1575℃烧结SrLa(Zn0.5Ti0.5)O4和SrLa(Mg0.5Ti0.5)O4时,得到如下最佳优良性能：Gr=29.4,Qf =34,000 GHz,τf=+38 ppm/℃；εr=25.5,Qf=72,000 GHz,τf=+29 ppm℃。将具有正τf值的SrLa(R0.5Ti0.5)O4(R=Zn,Mg)与具有负τf值的SrLaAlO4形成固溶体,有望得到谐振频率温度系数近零的材料。低损耗微波介质材料的关键性能参数包括相对介电常数Gr,Qf和谐振频率温度τf。出于测试精度的考虑,通常用平行板法评价εr和τf；用谐振腔法评价Qf。近年来,计算机计算能力的快速提升使得用金属谐振腔法精确评价εr成为可能,并已出现仅用这种方法评价以上三个参数的趋势。实际上,低损耗微波介质材料的τf(τf,s)定义为均匀填充这种材料的理想谐振系统的谐振频率温度系数,而测试时均处理为非理想谐振系统的τf(τf,r)。本文借助有限单元分析,主要讨论了用谐振腔法测试τf的误差。金属谐振腔法的测试误差主要来源于腔体、支撑物、电能填充因子等因素,测试误差通常为几ppm/℃,且测试误差随着样品介电常数的减小而增加。同时,采用具有低热膨胀系数的腔体材料来减少测试误差的方法并不可靠。而平行板法的测量误差则远小于金属谐振腔法,通常在1ppm/℃以内。因此,若将样品的τf,s视为非理想谐振系统的τf,r,建议使用平行板法测试τf,s,这一点在试样介电常数较低或对测试精度要求较高时尤为重要。如果使用谐振腔法测试τf,s,则必须结合数值计算以提高测试精度。