石墨烯是一种二维sp2杂化的碳结构，引起很多学者关注，已在其独特的电学性质、光学性质、磁学性质、热学性质、机械性质等研究领域取得了很多成就。在各式各样的器件方面，石墨烯具有潜在的应用价值。氧化石墨烯（GO）是大量合成不需要支撑物的石墨烯层的一种重要的前体，为一种绝缘材料。为了激活氧化石墨烯的导电性，大多通过化学还原方法或者是热处理方法使它转化成导电的材料。为了进一步开发石墨烯的应用，我们可以采用的一种重要手段是在石墨烯相关材料上进行纳米尺度的操纵、控制与改造。类似的许多方式已经在使用，包括基于扫描探针技术的纳米蚀刻技术。最近，Wei等人报道了运用原子力显微镜（AFM）的加热探针能够局部的还原GO，而且该反应是在探针高速扫描时、在纳米尺度下实现的。然而，这种局部热还原GO的影响因素还没有进一步的研究。本文主要研究在利用原子力显微镜加热探针对氧化石墨烯单层进行局部热还原时的各种影响因素。当加热原子力显微镜探针作用在氧化石墨烯层表面上，将氧化石墨烯的局部热还原成导电的纳米材料，并利用各种手段(包括侧向力显微镜和极化力显微镜)来表征热还原的氧化石墨烯。我们发现探针温度、加热的时间和负载力对氧化石墨烯的热还原具有非常重要的作用；此外，探针还原时，其周围的环境湿度，对它的影响是可忽略不计的。并且对石墨烯存在皱褶现象进行观察和记录，对单原子的石墨烯的导热性提出了设想和进一步工作。