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TDC-2000集散控制系统磁盘机子系统
【机 构】
:
南京航空航天大学
【出 处】
:
南京航空航天大学
【发表日期】
:
1993年期
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随着集成电路制造技术的快速发展,测试变得越来越复杂、越来越困难也越来越重要。在SOC的可测性设计中,混合信号电路测试和真速测试是SOC测试遇到的新挑战。 本文通过对SO