【摘 要】
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用原子力显微镜、扫描电子显微镜、能量色散谱、高分辨X射线衍射、小角X射线反射率、掠入射X射线衍射、漫散射以及不对称衍射等方法对在SrTiO衬底上生长的LaCaMnO单层膜以及Y
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用原子力显微镜、扫描电子显微镜、能量色散谱、高分辨X射线衍射、小角X射线反射率、掠入射X射线衍射、漫散射以及不对称衍射等方法对在SrTiO<,3>衬底上生长的La<,0.5>Ca<,0.5>MnO<,3>单层膜以及YBa<,2>Cu<,3>O<,7>/La<,2/3>Ca<,1/3>MnO<,3>异质结构薄膜的微结构进行了研究,主要内容如下：一.对三块不同退火温度（800℃、850℃和900℃）的La<,0.5>Ca<,0.5>MnO<,3>薄膜的微结构进行了表征.二.系统地研究了四块名义厚度分别为600A、1200A和1500A的La<,0.5>Ca<,0.5>MnO<,3>薄膜的微结构.三.对在SrTiO<,3>衬底上生长的YBa<,2>Cu<,3>O<,7>和La<,2/3>Ca<,1/3>MnO<,3>单层膜,以及YBa<,2>Cu<,3>O<,7>/La<,2/3>Ca<,1/3>MnO<,3>异质结构薄膜的微结构进行了研究.
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