移动通信已进入5GNR(New Radio)时代,终端基带处理芯片作为用户体验最核心的组成部分,成为5GNR技术研究的一个热点和难点。5GNR系统面向用户群体复杂而广泛,致使5GNR组网复杂性需要兼顾,使得终端基带处理芯片必须具备更大的规模和复杂度,这直接导致芯片的设计以及测试验证工作变得更复杂和困难。仅通过人工测试,不再能够显著提高产品生产率和劳动效率。本论文研究内容来源于深圳市中兴微电子技术有限公司的“基于LTE方向面向5G的自动化平台构建研究”项目。论文针对面向5G的7520wisefoneV3多模软基带芯片产品,通过理论研究、功能分析、设计实现及测试验证,完成了“面向5G移动通信的LTE终端芯片自动化测试方法研究与实现”的课题目标。论文主要工作包括:1.自动化平台的选型和自动化平台框架设计。2.针对7520V3单模功能,协议,功耗,性能,进行了自动化测试方法的论证,采用对发起端单步控制,异步自动分析的模式,实现完全脱离人工执行。3.针对7520V3不同的终端形态,执行自动化测试结果并验证最终的数据结论。论文取得的主要研究成果如下:1.分析了 5G,Pre5G,与4GLTE测试特性相似点,得出研究LTE自动化测试对于5GNR芯片测试适用的结论。先对业界主流测试平台进行了分析,然后对硬件软件缺点进行了对比,最终选取了自研ATPi平台,并在此平台基础上,设计了四层软件架构。2.针对LTE以及Pre5G,协议信令测试数据量过大,无法短时间执行自动分析的问题,采用了实时缺点协议测试断点,分段读取LOG,异步并行执行离线自动分析的方式解决该问题,并申请了专利,完成了对7520V3数据卡5个版本的自动测试与手动测试对比,效率提升3倍以上,满足设计要求。3.针对LTE功耗测试数据无法自动分析的问题,采用了分布式处理的方式,方法为用例执行与功耗数据并行分析,并同步时间,功耗数据异常后再匹配ZCATLOG,对ZCATLOG进行分析,最后对问题进行输出,并自动记录功耗数据。完成了 7520MIFI产品5个版本的迭代自动化测试,对比手工测试,效率提升了4倍以上,满足设计要求。4.分析了性能测试自动化的难点后,设计方式考虑了信道衰落仪、终端衰减器之间的协调性,在自动化测试过程中,进行了衰减顺序的调整,和EXCEL表结果的自动编写,最后,完成了对7520EVB形态产品的自动性能测试,经过5轮测试,可以得出结论,自动化测试使得性能测试的生产率至少提升2倍以上。