随着超大规模集成电路(VLSI)技术的不断成熟，芯片的集成度正按照摩尔定律的速度持续提高，芯片的测试问题已成为制约整个行业发展的瓶颈。在当前芯片的设计中，嵌入式存储器所占的比重越来越大，因此对嵌入式存储器的测试和诊断也显得越来越重要。目前，从故障类型、测试设备及测试成本等方面考虑，用内建自测试(BIST)技术对嵌入式存储器进行测试是普遍采用的方法。本文从研究系统芯片的可测试性设计理论出发，对可测性设计中的内建自测试方法作了更为深入的研究，并对该领域的研究情况进行了介绍。在此基础之上，本文分析了嵌入式存储器内建自测试技术的相关理论和方法，包括其故障模型与测试算法，重点剖析了March测试算法，并在已有算法的基础上设计出了一种改进型的March测试算法——March-TBA。该算法通过增加六步读(写)操作，不但覆盖了更多的测试过程中可区分的故障类型，增强了故障诊断能力，而且减少了测试所需要的时间。最后，利用ModelSim仿真软件进行实验仿真，将得出的实验数据与已有算法的实验数据进行对比分析，结果表明改进后的算法的故障覆盖率更高，从而验证了该算法的有效性。