荧光量子产率和荧光色度是荧光材料两项重要的光学参数，它对科学研究和实际应用有着重要的意义。其中，荧光色度是以荧光量子产率的准确测量为基础，不同条件的测量方法适用于不同的应用场合。 本研究旨在45°／0°条件和0°／D条件下，对荧光量子产率和荧光色度的绝对测量进行较系统的基础研究，以积累实验数据，改进测量方法。为以后建立国家量子产率和荧光色度基准提供依据，为荧光材料的荧光量子产率和荧光色度标准值的传递奠定基础。论文中还介绍了实现材料荧光量子产率和荧光色度绝对测量的基础理论及国内外在该领域中的研究现状。 本论文工作的主要内容是：在荧光分光光度计的基础上，设计绝对定标方案，并利用光线追迹的方法对45／0条件下测试附件进行了仿真设计，用设计的专用测量附件实现了不同测量条件下荧光材料量子产率和荧光色度的绝对测量；在对理论推导结果和实验结果比较分析的基础上，改进实验的方案和测量过程，最终确定了荧光量子产率和荧光色度测量程序和数据处理方案。并分析了测量结果的不确定度。在研究过程中，首次提出了： 1．一种针对不透明固体样品的快速寻峰算法，解决了液体寻峰算法所不能解决的问题，在不影响测试结果的前提下，有效的缩减了荧光色度样品的扫描时间。 2．用于消除荧光峰和反射峰重叠影响的基函数计算方法 3．基于相似函数簇的色度算法。 在论文给出的测量不确定度范围内，量子产率和荧光色度与国外参考值在各自的误差范围内具有较好的符合程度。证明了本论文研究的测量方案可以独立复现荧光材料量子产率和荧光色度量值。