软件是充满错误的,而修复错误最重要的前提,就是如何快速地定位错误,这往往也是在软件开发周期里花费人力物力最多的一步。因而任何可以降低错误定位代价的技术都是非常有吸引力的。尽管现有的错误定位技术在单错误受测程序上进行了一定的研究,但是其精准度还远远不够。当一些在单错误受测程序上行之有效的手段推广到多错误受测程序上时,其效果更是不好。本文对错误定位技术的两个关键因素进行了改进,提出了一个新的错误指示器KBC和一个相似性公式的降噪规则。KBC是一种从程序控制流图上挖掘出的关键片段,该片段上的各个执行序列有着更加丰富的上下文信息。降噪规则是一套能够对大多数相似性公式进行降噪的形式化方法。通过运用这两个关键技术,本文提出了一个新的错误定位框架——MinusFKBC.实验表明,该框架可使单错误定位效率提升10%左右。通过输入输出优化(即测试案例分组以及辅助信息排序)进一步增强后,该框架还可以有效应用于多错误定位,并显著提高其定位效率。为了更好地研究错误定位技术及其在生产环境中的应用,本文还介绍了两个应用性成果——错误定位技术在线设计及评估平台FLOJ和用于Java工程开发的Eclipse插件Lunuo。FLOJ可以使得一项新的错误定位技术的研究、评估时间,从以“年”计量降低到以“小时”计量。Lunuo则是错误定位技术在生产环境中的第一个应用工具。应用表明,使用这些工具及错误定位技术,对软件设计教学有着很好的帮助作用。