【摘 要】
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OLED生产过程中会出现各类缺陷,微弱Mura缺陷因对比度极低、边界模糊的特性,现有方法检测255灰阶下对比度≤15的微弱Mura缺陷检出率低于65%,有效检出微弱Mura缺陷极难。提升微弱Mura缺陷检出率,高精度检测微弱Mura缺陷成为显示器件缺陷检测领域研究重点。本文针对微弱Mura缺陷检测难题,从缺陷成像与缺陷检测两个角度分析问题,提出OLED显示器件微弱Mura缺陷多视角视觉检测方法,提
【基金项目】
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国家重点研发计划项目:“高性能印刷电子器件的高精度跨尺度喷印制造基础研究”（项目批准号:2018YFA0703200）； 武汉精测电子集团股份有限公司合作项目:“多角度微弱色偏Mura的检测”（合同编号:2020CXY-JC-02）； 华为技术有限公司合作项目:“手机显示Mura缺陷量化检测研究”（合同编号:YBN20200452
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OLED生产过程中会出现各类缺陷,微弱Mura缺陷因对比度极低、边界模糊的特性,现有方法检测255灰阶下对比度≤15的微弱Mura缺陷检出率低于65%,有效检出微弱Mura缺陷极难。提升微弱Mura缺陷检出率,高精度检测微弱Mura缺陷成为显示器件缺陷检测领域研究重点。本文针对微弱Mura缺陷检测难题,从缺陷成像与缺陷检测两个角度分析问题,提出OLED显示器件微弱Mura缺陷多视角视觉检测方法,提升了微弱Mura缺陷检出率,本文开展研究工作如下:（1）针对微弱Mura缺陷成像不完全、缺陷区域对比度低问题,提出基于双判别器网络的微弱缺陷增强多视角图像融合算法（Weak Defects Enhance Multi-view Image Fusion,WDEMIF）,实现通过多视角图像融合生成缺陷信息完整的增强融合图像。（2）针对微弱Mura缺陷低对比度、边界模糊导致的缺陷检测难题,提出基于特征提纯与边界预测的双网络Mura缺陷检测算法（Double Network based on Feature Purification and Boundary Prediction,DNFPBP）,实现微弱Mura缺陷检出率≥80%。（3）针对微弱Mura缺陷检测难题,研制多视角显示器件缺陷检测装置。提出基于椭圆轨迹的单相机多视角成像方案;提出基于固连反射镜的单相机多视角成像方案。集成提出的多视角图像融合增强算法WDEMIF、Mura缺陷检测算法DNFPBP开发Mura缺陷检测软件,搭建多视角图像采集硬件平台,形成多视角显示器件缺陷检测装置,对产线收集的OLED显示器件缺陷检出率达到82.2%,满足企业使用需求。本文所提出OLED显示器件微弱Mura缺陷多视角视觉检测方法实现了微弱Mura缺陷高精度检测。
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