汞在工业生产和日常生活中有越来越广泛的应用,汞中毒的病例也越来越多。汞进入人体后,神经系统是汞中毒患者常见的受累部位,患者通常会有学习记忆能力下降的症状。近年来也有不少关于汞中毒患者的分析研究,但这些研究多见于对患者大脑皮层电位的时域统计和主观分析,对患者深层核团产生电信号的时域特征和频域特征的客观统计分析较少。本文通过建立汞中毒大鼠模型,改良大鼠深层脑电采集方法,联合分析大鼠深层脑电信号与神经递质浓度,总结慢性汞中毒大鼠的脑电信号特征,探讨汞对中枢神经系统的损伤机制。主要的研究内容有:首先,建立汞中毒大鼠模型,改良大鼠深层脑电信号采集方法。将大鼠分为对照组、低剂量组、中剂量组、高剂量组,对照组大鼠不做染毒处理,其余各组大鼠染毒标准为:低剂量组大鼠33.5μg/kg,中剂量组67μg/kg,高剂量组134μg/kg。标准化实验操作步骤,改良并使用大鼠脑立体定位仪,同步采集大鼠海马体和基底神经节信号。其次,分析处理各组大鼠深层脑电信号。应用MATLAB和自行编写的程序,从时域和频域两个方面,提取大鼠海马体和基底节的深层脑电信号的脑电特征。时域方面,观察时域信号图并统计δ频段相对幅值;频域方面,求得信号功率谱并计算各频段相对功率值及其之比。结合时域特征与频域特征,得出大鼠深层脑电信号特征。再次,提取并检测神经递质含量。采集检测大鼠海马体和基底神经节谷氨酰胺合成酶的活力值与谷氨酸浓度,分析汞对“谷氨酸-谷氨酰胺循环通路”的阻碍状况,总结不同剂量的汞对谷氨酸浓度的影响。最后,联合分析染毒大鼠脑电特征与神经递质浓度。将不同剂量组大鼠的脑电特征与谷氨酰胺合成酶活力和谷氨酸浓度结合分析,得出脑电信号与神经系统损伤的内在联系,探讨汞对中枢神经系统的损伤机制。