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对稻草茎部和叶鞘的外表面及穗轴等进行了皮层硅化物的X射线光电子能谱（XPS）研究。结果表明，所研究的几个部位皮层中，自外至里，硅化物的含量及分布具有相同的规律性；茎部皮层外表面硅化物的含量（面积）最低，但半峰宽则比皮层内部高；叶鞘及穗轴的皮层外表面硅化物的含量及半峰宽均比其皮层内部低。初步测定表明，所有部位中的硅化物均为无机硅化物，不同部位硅化物的组成不同；但各测定点的半峰宽都明显高于基准值1．57，说明在测定范围内的硅化物均是由两种或两种以上的硅化物组成的。因此，对各部位的Si2P峰均需进行分峰拟合分析