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为了检验传输过程中数据的可靠性，设计了容错可逆的汉明码电路。提出了一种新型的可逆逻辑门（FVG），并且完成了FVG门等价的量子实现。利用FVG门和现有的容错可逆门，实现了汉明码编码电路和检测电路。以（7，4）汉明码设计为实例，根据量子代价和延迟对其进行性能评估，结果证明该电路比现有电路的性能提高10％-20％，仿真实验结果显示，电路逻辑结构正确，性能可靠。