切换导航
文档转换
企业服务
Action
Another action
Something else here
Separated link
One more separated link
vip购买
不 限
期刊论文
硕博论文
会议论文
报 纸
英文论文
全文
主题
作者
摘要
关键词
搜索
您的位置
首页
期刊论文
国际半导体技术发展路线图(ITRS)2009年版综述(4)
国际半导体技术发展路线图(ITRS)2009年版综述(4)
来源 :中国集成电路 | 被引量 : 0次 | 上传用户:cxxuxu
【摘 要】
:
42009版ITRS的新内容——技术工作组总结4.1系统驱动在2009年,系统驱动工作组对"系统驱动"一章进行了如下更新:详细地更新了SOC消费电子驱动,阐述了在这个门类中更新的原因和细
【出 处】
:
中国集成电路
【发表日期】
:
2010年5期
【关键词】
:
半导体技术
路线图
电子驱动
综述
国际
关键参数
工作组
系统
下载到本地 , 更方便阅读
下载此文
赞助VIP
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
42009版ITRS的新内容——技术工作组总结4.1系统驱动在2009年,系统驱动工作组对"系统驱动"一章进行了如下更新:详细地更新了SOC消费电子驱动,阐述了在这个门类中更新的原因和细节,以及影响的关键参数例如功耗等。
其他文献
杨凌高效节水示范园建设述评
本文对杨凌高效节水示范园建设情况及其成功的经验作了总结,并对园区现存问题进行了探讨。
期刊
节水示范园区
经验
问题
杨凌
日本的民间故事与民族意识
尽管中国和日本已经打了200多年的交道,期间发生了多次严重冲突,但目前我们对日本的认识仍然是模糊不清的。要说“相似”,日本和我们的确有相似之处;但更多的,是“差异”。
期刊
日本
民族意识
民间故事
严重冲突
相似
改革开放以来重庆市对外贸易发展的回顾与展望
改革开放40年来,对外贸易在重庆市经济和社会发展中的作用不断提高。在新时代背景下,重庆市对外贸易发展应积极引进外部资源、完善物流系统、建立自由贸易园区,打造快速发展
期刊
改革开放
重庆
对外贸易
回顾
展望
reform and opening up
Chongqing
foreign trade
review
prospect
变革与创新——半导体产业应对金融危机的策略思考
一、半导体产业受到金融危机严重冲击,现已呈现复苏迹象,但市场复苏仍存在不确定性 (一)全球半导体产业发展情况 全球半导体产业受到金融危机严重冲击(图1)。全球半导体市场在2008
期刊
半导体产业
金融危机
半导体市场
创新
不确定性
产业发展
复苏
高温季节怎样维持蛋鸡高产
高温季节怎样维持蛋鸡高产甘肃省畜牧学校杨孝列环境温度是影响鸡生产性能的重要因素。鸡由于体温高,代谢旺盛,皮肤无汗腺,不能通过排汗来散发体热。当环境温度上升到28℃以上时,鸡
期刊
卵用鸡
环境温度
生产性能
M5525100—1/UM型大角度离子注入机
1、产品及其简介M5525100—1/UM型大角度离子注入机可满足100纳米,8英寸集成电路制造工艺的要求,适合源漏区的大角度晕、袋、栅阈值调整、阱等注入,可获得良好的注入均匀性、重复
期刊
离子注入机
大角度
集成电路制造工艺
M型
电源系统
总体设计
可靠性设计
辅助系统
简析陈云在新民主主义社会时期的税收理论
陈云是新中国税收事业的开创者和奠基人,他用社会主义理论同自己的经济思想结合起来,为我国的经济建设做出了不可磨灭的贡献。其中,他的税收思想在我国的经济建设特别是50年代后
期刊
陈云
新民主主义
税收理论
Chen Yun
New Democratism
tax theory
绵羊睾丸内分泌细胞的季节变化
测量并比较了中国美利奴羊四季睾丸的间质细胞和支持细胞的数目及细胞核大小,结果是无论是单位面积、间质细胞的数目,还是间质细胞和支持细胞核的大小,均呈季节性变化.从春季
期刊
绵羊
睾丸
内分泌细胞
季节变化
片上网络拓扑结构的研究
随着SoC体系结构设计复杂度的提高,传统的总线结构已成为IP核之间通信的瓶颈。为了满足大规模集成电路发展对扩展性、能耗、面积、时钟异步、重用性、QoS等方面的需求,新的设计
期刊
片上网络
网格
拓扑结构
Network on Chip
Mesh
Topology
横河电机ATE事业介绍Innovative Test Solution Company-YOKOGAWA
作为世界著名的大规模集成电路测试设备(ATE)制造商之一的横河电机公司(YOKOGAWA)的ATE事业部门,我们ATE产品的测试功能覆盖了所有目前在市场上的集成电路器件产品。无论是模拟线
期刊
横河电机公司
SOLUTION
ATE
Test
事业
集成电路器件
大规模集成电路
测试设备
Sensor
Image
与本文相关的学术论文