联合上下腔静脉途径心血管植入型电子器械导线拔除回顾性分析

来源 :中华心律失常学杂志 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lijie04113209
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目的

回顾性分析单中心近年来联合上腔和下腔途径心血管植入型电子器械(CIED)导线拔除术(TLE)的病例特点,探究其与单纯上腔或下腔途径拔除CIED导线病例的不同之处。

方法

连续入选2011年1月至2018年9月于阜外医院心律失常中心行TLE患者159例。将其依据TLE时血管入路途径分成2组:A组为单纯经上腔或下腔途径拔除组(132例);B组为联合上腔和下腔途径拔除组(27例)。对比2组患者基线资料特点、CIED植入类型、导线拔除情况等。

结果

与A组相比,B组CIED植入时间更长、既往囊袋清创史和CIED更换史比例更高(P<0.05)。进一步统计学分析示,CIED植入时间对于需行联合上下腔静脉TLE者有独立预测价值;CIED植入时间≥5.25年时,其敏感度和特异度分别为74.1%和67.4%。2组患者共计拔除导线301根:A组拔除249根,B组拔除52根,总体临床成功率为95.2%;其中B组拔除成功率更低(86.7%对97.3%,P=0.002)、严重并发症率更高(18.5%对1.5%,P=0.002)。

结论

对于CIED植入时间≥5.25年者预示着其需要联合上下腔静脉途径行TLE。对于联合上下腔静脉途径行TLE患者,其成功率较单纯上腔或下腔途径更低,且严重并发症发生率更高。

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