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将标准刻线应用到对微细物体进行高精度定位的交流伺服驱动控制系统中，提出了一种新的直接获取运动位移的方法。调整光路使CCD获取清晰的光栅图像，对图像进行分析处理，计算出栅距与像素之间的映射关系，再对工作台移动前后的光栅图像进行对比，采用基于李萨如图的相位差比率算法获取它们的像素位置差，从而计算出工作台的实际运行位移。试验结果表明，该方法能简单快速地实现微电子加工领域亚像素级的测量。