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在随机测试的基础上提出了VLSI电路测试中的一个新概念，即预确定距离测试。随机测试广泛应用于软硬件测试中已经有多年了。众所周知，随机测试中每个测试码都是随机选取的而不管它是否与先前生成的测试码重复。尽管由于测试码选取的随机性使得随机测试并不是十分有效，但是对它作了一些实质性修改从而大大提高了它的测试效率。在预确定距离测试中，总是选择总距离最大的测试码来进行测试，以便使得该测试码所检测到的故障与先前的测试码所检测到的故障尽可能地不同。还详细介绍了构造一个预确定距离测试序列的生成算法，并将其应用到软件测试中。