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探测量子效率(DQE)可被用来精确描述图像噪声通过成像系统的传播特性。根据级联理论,简洁得出了零频噪声传播情况下成像系统的DQE表达式。采用蒙特卡罗程序MCNP计算了高能x射线的硬化能谱在六种常用闪烁晶体中的能量沉积分布以及高能伽玛相机的DQE,分析了闪烁晶体的材料和厚度对DQE的影响。模拟结果表明,高密度、高原子序数是影响DQE的主要因素,在N~NN-F,LuAP和LSO转换屏的探测量子效率最高。