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用Ｘ射线衍射，扫描电子显微镜和透射电镜／能谱仪分析了Ａｌ２Ｏ３／ＴｉＢ２和Ａｌ２Ｏ３／ＴｉＢ２／ＳｉＣＷ陶瓷材料在１３００℃氧化３０小时后氧化层的相组成及显著结构。
Al2O3／TiB2和Al2O3／TiB2／SiCW陶瓷材料氧化层的显微结构分析
【摘 要】
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用Ｘ射线衍射，扫描电子显微镜和透射电镜／能谱仪分析了Ａｌ２Ｏ３／ＴｉＢ２和Ａｌ２Ｏ３／ＴｉＢ２／ＳｉＣＷ陶瓷材料在１３００℃氧化３０小时后氧化层的相组成及显著结构。
【机 构】
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山东工业大学机械工程学院
【出 处】
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电子显微学报
【发表日期】
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1997年2期
【基金项目】
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国家自然科学基金
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