大气颗粒沉积物的X射线光电子能谱分析

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用X射线光电子能谱(XPS)分析了沉积在北京中关村地区不同物体表面的大气颗粒物。结果表明颗粒物表面的主要元素成份为S、N、C、O、Si、Al、Ca和Cl,其中含N和含S化合物为主要污染物。硫主要以硫酸盐或吸附的高价硫氧化物存在,氮则有多种化学态包括氨基和铵类氮、N-O化合物和硝酸盐类氮存在。2007年4月份采集的颗粒物表面的氮的相对原子百分比高于硫,但12月份采集的室外颗粒物表面的硫的相对原子百分比则高于氮。本研究显示XPS是研究大气颗粒沉积物的有效方法之一。
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