论文部分内容阅读
利用光学方法测量气体状态参数的关键在于确定气体折射率场的变化。光线通过稳定的非均匀折射率场时发生偏折，并且在强折射对称场中会产生交叉，使得条纹位移量的判读困难。本文首先分析了光线在轴对称折射率场中的偏折效应，在此基础上，给出了一种利用成像透镜对强折射轴对称场中折射率的干涉再现方法。该方法与其它方法相比较能够精确地确定折射率ｎ（ｒ）的值。