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二次离子质谱(SIMS)测定铀微粒同位素比时,邻近微粒间可能产生干扰。在IMS-6f型SIMS上开展U350和U0002铀微粒在不同间距、不同测量顺序下铀同位素比测量研究,结果表明,微粒间距超过22μm(U350)和35μm(U0002)时,微粒的234U/238U、235U/238U、236U/238U测定结果与标称值相符;相同间距时,丰度低的微粒比丰度高的微粒受到的干扰严