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为了改善光电成像系统探测器的几何形状像元成像质量,利用互信息量对矩形像元和六边形像元模拟、仿真,可定量描述成像质量,根据噪声干扰仿真分析不同像元的优势.仿真结果表明,在相同面积条件下六边形像元阵列的互信息量大于矩形像元的信息量;六边形像元有较好的抗噪声干扰能力,利用其特点对电子对抗设备研发有指导意义.