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针对光纤探针复合原子力显微镜（AFM）作用于纳米量级物体分析的操作，对纳米微粒、探针、基底之间作用力规律进行初步分析。指出纳米微粒所受的主要作用力为范德华力、毛细作用力、微观接触斥力、微观摩擦力和静电力等，通过纳米微粒受力分析并确定出微粒和探针之间距离的关系曲线，达到有利于控制纳米微粒精确操作的目的。