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<正> 一、问题的提出和实验方法 在低能注入B+浅结的过程中,沟道效应难以避免。为避免B+注入的沟道效应,本文采用100keV下5×1015cm-2的Si29注入n-Si<100>进行非晶化处理。继而进行了10keV,1×1015cm-2的B+注入形成浅结,然后对样品进行快速热退火(RTA)处理,并观察界面缺陷的