基于变步长采样的产品表面缺陷检测研究

来源 :激光与光电子学进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户：maomaoniaoniao

【摘要】

：

为了实现复杂产品结构质量的准确快速检测,对于产品表面有多种结构体及空间尺寸的待检区域,采用变步长采样机制快速获取待测产品的周向方位图像序列,实现在有限方位下利用不完全数据对多个待识别区域的快速检测。首先采用垂直投影法确定各待检区域的旋转步长,为保证标准库中信息的完整性选一最小步长作为合格品的采样步长。其次采用尺度不变特征变换(SIFT)算法与折半查找法确定随机摆放的待检产品在标准库中的最优位置信息

【作者】

：

徐青韩跃平杨志刚

【机构】

：

中北大学信息与通信工程学院,山西太原030051

【出处】

：

激光与光电子学进展

【发表日期】

：

2013年09期

【关键词】

：

测量缺陷检测变步长采样投影法尺度不变特征变换算法折半查找法 measurement defect detection variable step-si

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