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通过波动方程全波场正演模拟技术，揭示了垂直界面产生的二次反射，即双反射的波场特征，在此基础上研究了双反射偏移成像技术。模型正演表明，双反射偏移成像技术可使地下垂直或接近垂直的界面得以准确成像。通过该项技术的应用，使得利用常规地震处理技术不能准确成像的近垂直的各种波阻抗界面（断面、盐丘侧翼、油气水分界线等）得以准确成像，这对常规地震成像作了有益的补充。对有关断裂系统地质信息的准确识别及发现由断裂控制的继承性高产油气带和由微断层分割控制的剩余油等均具有十分重要的意义。