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用G显带方法分析原爆受照射者的染色体畸变
【机 构】
:
北京放射医学研究所,日本广岛放射线影响研究所,日本广岛放射线影响研究所
【出 处】
:
中华放射医学与防护杂志
【发表日期】
:
1983年03期
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