论文部分内容阅读
用超元胞的平面波展开法，计算了存在点缺陷的二维水／水银声子晶体的能带结构和压强分布。通过改变5×5超元胞中心圆柱体的半径而引入缺陷，发现缺陷填充率（Fd）小于或大于正常柱体填充率（F0）一定数值时（如当R=0．35，Fd〈0．10或Fd〉0．50），都将出现缺陷态，且凡对缺陷态的频率有重要影响。还比较了当Fd=0．03和Fd=0．90两种情况下缺陷态的压强分布，计算结果表明压强分布均具有局域性，n的大小对单模缺陷态的局域程度有影响，而对二重简并模无显著影响。