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通过＂高密度电法微测系统＂模型实验、有限单元法数值模拟、圆滑约束最小二乘法反演,探讨边界效应影响下的高密度电阻率法异常体边界的确定问题,研究异常体边界在反演断面上呈现的电阻率值与异常体边界两侧电阻率值间存在的统计关系。结果表明在高密度电法数据反演时,存在电阻率的过渡区域,异常体边界位于该过渡区域中,异常体边界在反演断面上呈现的电阻率可由异常体边界两侧电阻率值统计得出。异常体边界在反演断面上呈现的电阻率值取决于异常体界面两侧的电阻率值。