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与晶粒尺寸相类似，晶体取向也是材料研究中所要考虑的一种重要的微结构信息。晶体取向偏离随机分布状态的时候，就会呈现出织构状态，表现出各向异性行为 。上个世纪60年代以来，主要采用X—Ray衍射计算得到取向分布函数来表征宏观织构 ，这样所得到的结果是一个统计结果。直到20世纪80年代以来基于背散射电子衍射的EBSD技术的出现，人们对晶体取向的分析和应用才有了进一步认识。在EBSD分析中有时可能只对晶粒取向感兴趣，而实际材料中由于各种晶内显微组织的存在（位错胞、变形带等），各晶粒内部的取向并不完全一致，这时就需