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利用金刚石对顶砧（DAC）原位交流阻抗谱测量技术，研究了硫化镉（CdS）半导体粉末在高压下的电输运性质．结果表明，在高压条件下CdS中存在两个电传导过程，晶体内传导和晶界传导，而晶体内传导是其主要过程．通过选择合适的表象，获得了CdS的体电阻随压力的变化关系，反映了CdS在高压下的相变过程：在2．7GPa-3．6GPa范围内，体电阻骤降了两个数量级，这对应着CdS从纤锌矿到岩盐矿的结构相变；在8GPa和14GPa附近，体电阻出现局域最大值，这对应着CdS从∑v→Xc到Lv→Xc的能带变化．另外实验结果预测